簡要描述:日本JEOL 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡日常使用的SEM,好用! 該設(shè)備最高分辨率1nm、最大探針電流300nA(之前的15倍),可提供豐富的觀測和分析信息,用戶界面操作簡單、設(shè)計緊湊、配備大樣品室。
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
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儀器種類 | 熱場發(fā)射 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子 |
日本JEOL 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡特性
日常使用的SEM,好用! 該設(shè)備最高分辨率1nm、最大探針電流300nA(之前的15倍),可提供豐富的觀測和分析信息,用戶界面操作簡單、設(shè)計緊湊、配備大樣品室。
Zeromag日本JEOL 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有將樣品臺圖像、光學(xué)像和SEM像聯(lián)動的功能,樣品臺上有多個樣品和觀察特定區(qū)域時,很容易搜尋視野。
※若顯示光學(xué)像,需要選件樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)SNS。
■ Integrated EDS & Live Analysis
一體化EDS和實時分析
SEM操作界面上有EDS分析操作,觀察分析無障礙。Live Analysis具有實時顯示特征X線譜圖功能。
■ SMILE VIEW™ Lab
快速生成數(shù)據(jù)報告。